Home

Автор: Екатерина Курач

Классификация ODC (Orthogonal Defect Classification — ортогональная классификация дефектов) — это метод, разработанный корпорацией IBM с целью сбора информации о типах неисправностей, которые имеют место в разрабатываемых программных системах. Этот метод полезен при сборе и анализе тестовой информации с тем, чтобы направить усилия совершенствования процесса разработки в нужном направлении. Можно воспользоваться стандартной классификацией, разработанной авторами ODC, в качестве основы для отбора тестовых случаев.

Автор: Екатерина Курач

Написать тест кейсы для «полного» тестирования продукта — просто невозможно. Мы можем разработать миллионы тестов, но будет ли время у нас их выполнить? Вероятнее всего — нет. Поэтому приходится тщательно выбирать тест кейсы, которые мы будем проводить.